一 用途

HemiView HMV.10通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，HemiView 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布。

二 原理

使用180度魚眼鏡頭和數(shù)碼單反相機從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機的高清晰度影像載入HemiView軟件，進行分析處理。

三 組成

50. DCM10數(shù)碼單反相機：EOS 6D SLR相機獲取冠層圖像；
50. SLM10自平衡相機安放支架：安裝數(shù)碼相機，自動保持水平
50. SCL10魚眼鏡頭：配EOS 6D相機
50. MPD1可伸縮單臂支架：可以獲取不同層面冠層圖像
50. HemiView軟件：HMV1處理影像數(shù)據(jù)文件

四 系統(tǒng)特點

1 清晰的成像能力

本系統(tǒng)采用佳能EOS單反相機來拍攝照片，該相機擁有2600萬像素成像能力，大大提高了相片分辨率，從而使分析更加精確。

2 快速、簡便的操作

搭配自平衡支架，使鏡頭自動水平，使得測量更加簡單，操作更加方便；平衡架上面配有南、北標(biāo)志，可以在照片上清晰的標(biāo)記處南北方向，使圖片后期處理更加方便。

3 的拍攝

  該系統(tǒng)配有180°廣角、高分辨率的魚眼鏡頭，可以對冠層進行的拍攝，完整的記錄各個天空方向。

4 強大的冠層分析能力

通過對照片分析，可以非破壞性的測量葉面積指數(shù)、葉面傾角、葉面積指數(shù)的空間分布、冠層郁閉度、光照間隙及間隙分布狀況等多種冠層參數(shù)。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息， 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。

5 多樣的太陽輻射分析

  用戶通過選擇天頂角分區(qū)和方位角分區(qū)可以定義冠層圖像的分析區(qū)域，可以計算輻射指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布；直接輻射、漫輻射、總輻射變化；一天內(nèi)每隔小時內(nèi)的冠層上下的輻射變化；季節(jié)內(nèi)特定天內(nèi)的每天輻射變化。

6 可以分析的參數(shù)

五 基本技術(shù)指標(biāo)

* 數(shù)碼相機有效像素：2600萬像素

* 魚眼透鏡視角：180º

* MPD1可伸縮單臂支架范圍：0.69 ~ 1.66 m

* 操作溫度：5 ~ 55℃

* 圖像格式：BMP、JPEG、TIFF、Photo CD

* Hemiview數(shù)據(jù)輸出：Excel格式

六 產(chǎn)地：英國